SURTRONIC DUO粗糙度測量儀

• 更新時間：2017-06-16
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SURTRONIC DUO粗糙度測量儀
型號：SURTRONIC DUO
探頭系統：探頭系統
表面粗糙度測量范圍：199μm，40μm
掃描路徑：5mm
表面粗糙度分辨率：0.01μm
閾值波長：0.8 mm

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SURTRONIC DUO粗糙度測量儀

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DOOZ INSTRUMENT (SHANGHAI) CO., LTD.is an instruments and equipment supplier and service provider specialized in mechanical measurement machine, materials chemical composition, physical performance testing and analysis.

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SURTRONIC DUO粗糙度測量儀

型號：SURTRONIC DUO
探頭系統：探頭系統
表面粗糙度測量范圍：199μm，40μm
掃描路徑：5mm
表面粗糙度分辨率：0.01μm
閾值波長：0.8 mm
數據傳輸類型：USB

篤摯儀器代理的英國泰勒霍普森粗糙度測量裝置SURTRONIC DUO，具有內部進料單元的移動粗糙度測量裝置，小巧便攜，通用功能，用戶友好的界面，適合地板等表面粗糙度測量。

應用：
用戶友好的移動粗糙度測量裝置，用于參數Ra，Rz，Rp，Rv，Rt，Rz1max，R3z（戴姆勒DB N 31007），Rsk，Rq和Rku的標準粗糙度測量。

執行：
3.7“彩色液晶顯示屏，zui多顯示4個測量值
拆分顯示和進紙單元
兩臺機器之間的藍牙連接（zui大距離2米）
粗糙度參數符合DIN ISO和ASME標準
顯示主要輪廓/參數Pa，Pz，Pp，Pv和Pt
集成滑蓋式探頭，金剛石為5μm
可以通過迷你USB端口充電
 

優點：
InstantOn，從待機模式到測量模式只需5秒鐘
操作簡單直觀，無需培訓
測量值保存到下次測量為止
電池壽命每次充電可達3000次測量